Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen
Abstract
Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden.
Keywords
Oberflächenrekonstruktion; spiegelnde Oberflächen; Sichtprüfung; Normalenfeld; DeflektometrieISBN
9783866446878Publisher
KIT Scientific PublishingPublisher website
http://www.ksp.kit.edu/Publication date and place
2011Series
Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung,Classification
Computer science
Pages
XI, 262 p.Review type
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